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轉(zhuǎn)讓Hioki IM3536 LCR測(cè)試儀

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聯(lián)系人: 胡虹凌 未實(shí)名 [ 商家 ]

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描述:

Hioki IM3536 LCR測(cè)試儀

測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz

測(cè)量時(shí)間:最快1ms

基本精度:±0.05% rdg

1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量

可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量

從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中

測(cè)量頻率4Hz~8MHz,精度保證范圍1mΩ和測(cè)量范圍擴(kuò)大

以往產(chǎn)品(3532-50)的測(cè)量帶寬為42Hz~5Mhz,而IM3536的帶寬擴(kuò)大到了4Hz~8MHz。因此,可以測(cè)量用于各種領(lǐng)域中的電子元件的特性。特別是,最高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測(cè)量。

而且,精度保證范圍比起以往產(chǎn)品10mΩ以上,IM3536的精度保證為1mΩ以上,因此也適用于有低頻化要求的電容等的測(cè)量。

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