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FISCHERSCOPE-X-RAY XDV?-SDD是一個常見的能量色散X-RAY光譜儀,極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。同時也能實現(xiàn)鋁(13)到鈾(93)元素之間最多24種元素的同時測量。 典型應用領(lǐng)域: --測量超薄鍍層(例如金/鈀鍍層的測量可以達到≤0.1 μm) --痕量分析(例如Ro…
陜西 - 西安 2024-04-10